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詳細介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 應用領域 | 能源,電子,交通,汽車,電氣 |
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普賽斯1003C多通道數字源表特點：
同時精確提供和測量電壓和/或電流；
同步測量，減少測試時間
提供和測量非常廣的電流和電壓；
電壓可達300mV-300V,電流達100nA-1A
支持運行用戶腳本程序，無需電腦控制，提高生產測試速度；
序列測試，簡化操作，降低成本
采用用戶熟悉的圖形界面，不管用戶經驗是否豐富，使用起來都非常簡便；
觸屏操作
與傳統電源比：
電源過零需要改變線連接方式；
增加需反復開關機械開關，降低了設備可靠性
電壓電流限制精度有限；
電壓1%，電流10mA
與電源結合萬用表組合比：
萬用表電源組合需要編程實現設備控制及同步；
復雜連線、編程開發
電源限壓限流性能差
限壓限流精度低，瞬態特性也無法保證
普賽斯1003C多通道數字源表應用：
數字源表應用之光伏組件PID測試
PID的真正原因到目前為止沒有明確的定論，但最容易在潮濕的環境下發生，并且活躍程度與潮濕程度相關；同時組件表面被導電性、酸性、堿性以及帶有離子的物體的污染程度，也與PID現象的發生有關。據推測，來自于鈉鈣玻璃的金屬離子是形成上述具有PID效應的漏電流的主要載流介質。
系統方面
逆變器接地方式和組件在陣列中的位置，決定了電池片和組件受到正偏壓或者負偏壓。電站實際運行情況和研究結果表明：如果整列中間一塊組件和逆變器負極輸出端之間的所有組件處于負偏壓下，則越靠近輸出端組件的PID現象越明顯。而在中間一塊組件和逆變器正極輸出端中間的所有組件處于正偏壓下，PID現象不明顯。
組件方面
環境條件，如濕度等的影響導致了漏電流的產生。
電池方面
電池片由于參雜不均勻導致方塊電阻不均勻；優化電池效率而采用的增加方塊電阻會使電池片更容易衰減，導致容易發生PID效應。
測試所需主要儀器為：
步入式環境測試箱；
絕緣耐壓測試儀；
接地連續性測試儀；
PID測試直流電壓源（數字源表）；
HALM太陽模擬器（AAA+級）；
EL測試儀等。
PID 測試標準引自 IEC 62804 （Draft）
根據IEC61730-2 MST 01進行外觀檢測；
根據IEC61215第二版進行最大功率測試
根據IEC61215第二版條目10.15進行濕漏電流測試；
如果組件有裸露的導電部位，則要根據IEC61730-2 MST13進行接地連續性測試。
多通道高密度數字源表訂貨信息
如客戶S次使用我司插卡式源表系列產品，請先購買機箱SMU CS控制機箱，購買機箱時請標注需要使用幾通道，方便我司將不用通道暫時封閉，保證外觀美觀性。
主機：
型號 | 1003CS | 1010CS |
插槽數 | 3 | 10 |
子卡：
型號 | CS100 | CS200 | CS300 | CS400 |
單卡通道數 | 1 | 1 | 1 | 4 |
源精度 | 0.1% | 0.1% | 0.1% | 0.1% |
測量精度 | 0.1% | 0.1% | 0.1% | 0.1% |
Z大功率 | 30W | 30W | 30W | 2W/CH |
Z小電壓量程 | 300mV | 300mV | 300mV | 10V |
Z大電壓量程 | 30V | 100V | 300V | 10V |
Z小電流量程 | 100nA | 100nA | 100nA | 5uA |
Z大電流量程 | 1A | 1A | 1A | 200mA |
普賽斯插卡式設備具有通道密度高、同步觸發功能強、多設備組合效率高等特點。普賽斯插卡式主機采用自定義框架，背板總線帶寬高達3Gbps，支持16路觸發總線，滿足多卡設備高速率通信需求。普賽斯研發了豐富的可供用戶選配的子卡，方便用戶根據功能性能需求靈活配置不同的子卡。主機對外通信支持串口、以太網及GPIB。
為滿足客戶對子卡數的不同需求，推出了1003CS和1010CS兩款主機，1003CS擁有Z高容納3子卡的插槽，1010CS擁有Z高容納10子卡的插槽。普賽斯子卡均能放入這兩種主機。
CS系列源表子卡是普賽斯歷時多年打造的高精度、大動態、插卡式源表子卡，匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，Z大輸出電壓達300V，Z大輸出電流達1A，支持四象限工作，因此能廣泛的應用于各種電氣特性測試中。CS系列源表適用于各行各業使用者，特別適合現代半導體、納米器件和材料、有機半導體、印刷電子技術以及其他小尺寸、低功率器件特性分析。
目前已開發，CS100、CS200、CS300及CS400子卡，其中CS100、CS200、CS300為單卡單通道，CS400為單卡四通道，卡內4通道共地。使用10插卡主機時，用戶可實現高達40通道的配置，用戶針對實際情況可以選擇不同的子卡實現*性價比搭配。
高密度插卡式源表應用
納米材料特性測試，石墨烯、納米線等
有機材料特性測試，電子墨水、印刷電子技術等
能量與效率特性測試，LED/AMOLED、太陽能電池、電池、DC-DC轉換器等
分立半導體器件特性測試，電阻、二極管、發光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SIC等
傳感器特性測試，電阻率、霍爾效應等
高密度插卡式源表特點
源及測量的準確度為0.1%，分辨率5數位
四象限工作（源和肼），源及測量范圍：電流100pA~1A，電壓300uV~300V
單主機可支持10子卡，Z高實現40通道
靈活的通道觸發總線，多子卡高效協同工作
豐富的掃描模式，支持線性掃描、指數掃描及用戶自定義掃描
支持多種通信接口，RS-232、GPIB及以太網
多通道高密度數字源表技術指標
1003CS 主機：
插槽數：Z多支持3通道；
通信口：RS-232、GPIB、以太網；
電源：AC 100~240V 50/60Hz，Z大功率500W；
工作環境：25±10℃；
尺寸：178mm高 × 482mm寬 × 552mm長；
質保期：1年；
1010CS 主機：
插槽數：Z多支持10通道；
通信口：RS-232、GPIB、以太網；
電源：AC 100~240V 50/60Hz，Z大功率500W；
工作環境：25±10℃；
尺寸：354mm高 × 482mm寬 × 552mm長；
質保期：1年；
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