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簡要描述:CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針臺CL系列探針臺可兼容高倍率金相顯微鏡,可微調移動 ;可升級做射頻,大電流方面的測試和激光修復應用
產品分類
探針臺
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詳細介紹
CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針臺特點 / 應用
滿足I-V/C-V,PIV測試,光電測試等.
大可用于8英寸以內樣品測試
同軸絲杠傳動結構,線性移動
兼容高倍率金相顯微鏡,可微調移動
可升級做射頻,大電流方面的測試和激光修復應用
CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針臺
臺體規格:
尺寸
4英寸/6英寸/8英寸
水平旋轉
可360度旋轉,可微調15度,精度0.1度,帶角度鎖死裝置
X-Y移動行程
4英寸*4英寸/6英寸*6英寸
X-Y移動精度
10微米/1微米
樣品臺Z軸調節
可升降10mm
樣品固定
真空吸附,中心吸附孔,多圈吸附環
針座平臺
U型針座平臺,多可放置6個探針座
背電極測試
樣品臺電學獨立懸空,4mm插孔可接背電極
外形尺寸
400mm長*400mm寬*600mm高/580mm長*480mm寬*600mm高
重量
約40千克/60千克
光學系統:
顯微鏡類型
單筒顯微鏡/體式顯微鏡/金相顯微鏡
放大倍率
16X-200X/20X-4000X
移動行程
X-Y軸行程2英寸*2英寸,Z軸行程50.8mm
光源
外置LED環形光源/同軸光源
CCD
200萬像素/500萬像素/1200萬像素
探針座
X-Y-Z移動行程
12mm*12mm*12mm
移動精度
10微米/2微米/0.7微米/0.5微米
吸附方式
磁力吸附/真空吸附
線纜
同軸線/三軸線
漏電精度
10pA/100fA/10fA
固定探針
彈簧固定/管狀固定
接頭類型
BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子
針尖直徑
0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米
針尖材質
鎢鋼/鈹銅
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