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是德科技N5531X測(cè)量接收機(jī)提供真正的一站式解決方案，用于信號(hào)發(fā)生器和步進(jìn)衰減器的可追溯校準(zhǔn)緊湊，真正的“一體式”測(cè)量接收機(jī)解決方案，頻率高達(dá)50 GHz 以計(jì)量級(jí)精度校準(zhǔn)信號(hào)源和步進(jìn)衰減器 使用PXA的多點(diǎn)觸控用戶界面輕松執(zhí)行所有測(cè)量 調(diào)諧RF電平（TRFL）測(cè)量的最小RF功率低至-150 dBm
SE800PV激光橢偏儀光譜橢偏儀SE 800 PV是分析結(jié)晶和多晶硅太陽(yáng)能電池防反射膜的理想工具。可以測(cè)量單層薄膜（SiNx、SiO2、TiO2、Al2O3）和多層疊層膜（SiNX/SiO2、SiNx1/SiNx2、SiNx/Al2O3）。
SENTECH臺(tái)式薄膜探針反射儀FTPadv通過選擇合適的配方，F(xiàn)TPadv反射儀以小于100ms的測(cè)量速度、精度小于0.3nm、厚度范圍為50nm-25μm的精度進(jìn)行厚度測(cè)量。
RM1000反射膜厚儀反射膜厚儀RM 1000和RM 2000測(cè)量具有光滑或粗糙表面的平坦或彎曲樣品的反射率。利用SENTECH FTPadv Expert軟件計(jì)算單層或?qū)盈B膜的厚度、消光系數(shù)和折射率指數(shù)。在紫外-可見光- 近紅外光譜范圍內(nèi)，可以分析5nm～50μm厚度的單層膜、層疊膜和基片。
安科瑞泰SE500adv橢偏反射儀SE 500adv結(jié)合了橢偏儀和反射儀，除了測(cè)量透明膜層厚度的模糊性。它把可測(cè)量的厚度擴(kuò)展到25m，因此SE 500adv擴(kuò)展了標(biāo)準(zhǔn)激光橢偏儀SE 400adv的能力，特別適用于分析較厚的介質(zhì)膜、有機(jī)材料、光阻、硅和多晶硅薄膜。
安科瑞泰SE400adv激光橢偏儀我們的激光橢偏儀SE 400adv的高速測(cè)量速度使得用戶可以監(jiān)控單層薄膜的生長(zhǎng)和終點(diǎn)檢測(cè)，或者做樣品均勻性的自動(dòng)掃描。
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